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    可靠性交易

    英文名稱:Ieee Transactions On Reliability   國際簡稱:IEEE T RELIAB
    《Ieee Transactions On Reliability》雜志由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版,本刊創刊于1963年,發行周期Quarterly,每期雜志都匯聚了全球計算機科學領域的最新研究成果,包括原創論文、綜述文章、研究快報等多種形式,內容涵蓋了計算機科學的各個方面,為讀者提供了全面而深入的學術視野,為計算機科學-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE事業的進步提供了有力的支撐。
    中科院分區
    計算機科學
    大類學科
    0018-9529
    ISSN
    1558-1721
    E-ISSN
    預計審稿速度: 約4.5個月
    雜志簡介 期刊指數 WOS分區 中科院分區 CiteScore 學術指標 高引用文章

    可靠性交易雜志簡介

    出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
    出版語言:English
    TOP期刊:
    出版地區:UNITED STATES
    是否預警:

    是否OA:未開放

    出版周期:Quarterly
    出版年份:1963
    中文名稱:可靠性交易

    可靠性交易(國際簡稱IEEE T RELIAB,英文名稱Ieee Transactions On Reliability)是一本未開放獲?。∣A)國際期刊,自1963年創刊以來,始終站在計算機科學研究的前沿。該期刊致力于發表在計算機科學領域各個方面達到最高科學標準和具有重要性的研究成果。全面反映該學科的發展趨勢,為計算機科學事業的進步提供了有力的支撐。期刊嚴格遵循職業道德標準,對于任何形式的抄襲行為,無論是文字還是圖形,一旦查實,均可能導致稿件被拒絕。

    近年來,來自CHINA MAINLAND、USA、England、Canada、France、Brazil、Italy、Singapore、Iran、Taiwan等國家和地區的研究者在《Ieee Transactions On Reliability》上發表了大量的高質量文章。該期刊內容豐富,包括原創研究、綜述文章、專題觀點、論文預覽、專家意見等多種類型,旨在為全球該領域研究者提供廣泛的學術交流平臺和靈感來源。

    在過去幾年中,該期刊保持了穩定的發文量和綜述量,具體數據如下:

    2014年:發表文章73篇、2015年:發表文章113篇、2016年:發表文章149篇、2017年:發表文章100篇、2018年:發表文章103篇、2019年:發表文章100篇、2020年:發表文章96篇、2021年:發表文章177篇、2022年:發表文章145篇、2023年:發表文章132篇。這些數據反映了期刊在全球計算機科學領域的影響力和活躍度,同時也展示了其作為學術界和工業界研究人員首選資源的地位?!禝eee Transactions On Reliability》將繼續致力于推動計算機科學領域的知識傳播和科學進步,為全球計算機科學問題的解決貢獻力量。

    期刊指數

    • 影響因子:5
    • 文章自引率:0.0847...
    • Gold OA文章占比:16.74%
    • CiteScore:12.2
    • 年發文量:132
    • 開源占比:0.0455
    • SJR指數:1.511
    • H-index:86
    • SNIP指數:1.989
    • 出版國人文章占比:0.38

    WOS期刊SCI分區(2023-2024年最新版)

    按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 8 / 59

    87.3%

    學科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 13 / 131

    90.5%

    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 65 / 352

    81.7%

    按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 7 / 59

    88.98%

    學科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 14 / 131

    89.69%

    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 354

    88.28%

    中科院分區表

    中科院SCI期刊分區 2023年12月升級版
    Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
    計算機科學 2區
    COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 計算機:軟件工程 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣
    2區 2區 2區

    CiteScore(2024年最新版)

    CiteScore 排名
    CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
    12.2 1.511 1.989
    學科類別 分區 排名 百分位
    大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

    96%

    大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

    92%

    學術指標分析

    影響因子和CiteScore
    自引率

    影響因子:指某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。影響因子越高,代表著期刊的影響力越大 。

    CiteScore:該值越高,代表該期刊的論文受到更多其他學者的引用,因此該期刊的影響力也越高。

    自引率:是衡量期刊質量和影響力的重要指標之一。通過計算期刊被自身引用的次數與總被引次數的比例,可以反映期刊對于自身研究內容的重視程度以及內部引用的情況。

    年發文量:是衡量期刊活躍度和研究產出能力的重要指標,年發文量較多的期刊可能擁有更廣泛的讀者群體和更高的學術聲譽,從而吸引更多的優質稿件。

    期刊互引關系
    序號 引用他刊情況 引用次數
    1 IEEE T RELIAB 320
    2 RELIAB ENG SYST SAFE 181
    3 IEEE T SOFTWARE ENG 73
    4 EUR J OPER RES 58
    5 IEEE T POWER SYST 47
    6 TECHNOMETRICS 47
    7 IEEE T COMPUT 36
    8 MECH SYST SIGNAL PR 32
    9 INFORM SOFTWARE TECH 29
    10 J SYST SOFTWARE 29
    序號 被他刊引用情況 引用次數
    1 RELIAB ENG SYST SAFE 568
    2 IEEE ACCESS 527
    3 IEEE T RELIAB 320
    4 QUAL RELIAB ENG INT 165
    5 P I MECH ENG O-J RIS 155
    6 APPL STOCH MODEL BUS 83
    7 COMPUT IND ENG 76
    8 COMMUN STAT-THEOR M 66
    9 APPL MATH MODEL 64
    10 MECH SYST SIGNAL PR 58

    高引用文章

    • Failure Mode and Effect Analysis in a Linguistic Context: A Consensus-Based Multiattribute Group Decision-Making Approach引用次數:23
    • Optimal Maintenance Design-Oriented Nonprobabilistic Reliability Methodology for Existing Structures Under Static and Dynamic Mixed Uncertainties引用次數:19
    • Reliable Control of Discrete-Time Piecewise-Affine Time-Delay Systems via Output Feedback引用次數:19
    • Failure Mode and Effects Analysis by Using the House of Reliability-Based Rough VIKOR Approach引用次數:18
    • Multisensor Fault Diagnosis Modeling Based on the Evidence Theory引用次數:17
    • Cross-Project and Within-Project Semisupervised Software Defect Prediction: A Unified Approach引用次數:17
    • Reliability Modeling and Analysis of Load-Sharing Systems With Continuously Degrading Components引用次數:16
    • Uncertainty Analysis of Transmission Line End-of-Life Failure Model for Bulk Electric System Reliability Studies引用次數:16
    • Analyzing and Increasing the Reliability of Convolutional Neural Networks on GPUs引用次數:16
    • A Hybrid Approach to Cutting Tool Remaining Useful Life Prediction Based on the Wiener Process引用次數:14
    若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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