關于信息取證和安全的 Ieee Transactions(國際簡稱IEEE T INF FOREN SEC,英文名稱Ieee Transactions On Information Forensics And Security)是一本未開放獲取(OA)國際期刊,自2006年創刊以來,始終站在計算機科學研究的前沿。該期刊致力于發表在計算機科學領域各個方面達到最高科學標準和具有重要性的研究成果。全面反映該學科的發展趨勢,為計算機科學事業的進步提供了有力的支撐。期刊嚴格遵循職業道德標準,對于任何形式的抄襲行為,無論是文字還是圖形,一旦查實,均可能導致稿件被拒絕。
近年來,來自CHINA MAINLAND、USA、England、Singapore、Australia、South Korea、Italy、GERMANY (FED REP GER)、Canada、India等國家和地區的研究者在《Ieee Transactions On Information Forensics And Security》上發表了大量的高質量文章。該期刊內容豐富,包括原創研究、綜述文章、專題觀點、論文預覽、專家意見等多種類型,旨在為全球該領域研究者提供廣泛的學術交流平臺和靈感來源。
在過去幾年中,該期刊保持了穩定的發文量和綜述量,具體數據如下:
2014年:發表文章144篇、2015年:發表文章202篇、2016年:發表文章198篇、2017年:發表文章223篇、2018年:發表文章224篇、2019年:發表文章242篇、2020年:發表文章287篇、2021年:發表文章387篇、2022年:發表文章281篇、2023年:發表文章420篇。這些數據反映了期刊在全球計算機科學領域的影響力和活躍度,同時也展示了其作為學術界和工業界研究人員首選資源的地位。《Ieee Transactions On Information Forensics And Security》將繼續致力于推動計算機科學領域的知識傳播和科學進步,為全球計算機科學問題的解決貢獻力量。
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 13 / 143 |
91.3% |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 42 / 352 |
88.2% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 12 / 143 |
91.96% |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 28 / 354 |
92.23% |
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
是 | 否 | 計算機科學 1區 |
COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS
計算機:理論方法
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
1區
2區
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CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||
14.4 | 2.89 | 2.546 |
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影響因子:指某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。影響因子越高,代表著期刊的影響力越大 。
CiteScore:該值越高,代表該期刊的論文受到更多其他學者的引用,因此該期刊的影響力也越高。
自引率:是衡量期刊質量和影響力的重要指標之一。通過計算期刊被自身引用的次數與總被引次數的比例,可以反映期刊對于自身研究內容的重視程度以及內部引用的情況。
年發文量:是衡量期刊活躍度和研究產出能力的重要指標,年發文量較多的期刊可能擁有更廣泛的讀者群體和更高的學術聲譽,從而吸引更多的優質稿件。
序號 | 引用他刊情況 | 引用次數 |
1 | IEEE T INF FOREN SEC | 589 |
2 | IEEE T INFORM THEORY | 268 |
3 | IEEE T PATTERN ANAL | 189 |
4 | IEEE T IMAGE PROCESS | 166 |
5 | IEEE T WIREL COMMUN | 152 |
6 | PATTERN RECOGN | 123 |
7 | IEEE T COMMUN | 94 |
8 | IEEE T VEH TECHNOL | 92 |
9 | IEEE J SEL AREA COMM | 80 |
10 | IEEE SIGNAL PROC LET | 66 |
序號 | 被他刊引用情況 | 引用次數 |
1 | IEEE ACCESS | 1519 |
2 | MULTIMED TOOLS APPL | 653 |
3 | IEEE T INF FOREN SEC | 589 |
4 | IEEE INTERNET THINGS | 230 |
5 | INFORM SCIENCES | 175 |
6 | SENSORS-BASEL | 175 |
7 | FUTURE GENER COMP SY | 131 |
8 | IEEE COMMUN SURV TUT | 117 |
9 | J VIS COMMUN IMAGE R | 116 |
10 | SECUR COMMUN NETW | 106 |